Ultrazvukové zaostřovací sondy se dvěma střižnými vlnami ke kontrole kontroly svařování tenkých desek
Velikost krystalu sondy: duální: 3,5 x 10 mm
l Dobré téměř povrchové rozlišení
l Šířka pásma: 75,9% (- 6 dB)
Speciální design ke kontrole kontroly tenkého plechu a svařování trubek
|
Frekvence |
Velikost krystalu |
Úhel sondy |
Hloubka zaostření |
|
4 MHz |
3,5 x 10 mm duální |
45 stupňů |
10 mm |
|
4 MHz |
3,5 x 10 mm duální |
60 stupňů |
8 mm |
|
4 MHz |
3,5 x 10 mm duální |
70 stupňů |
6 mm |
Sem napište svoji zprávu a pošlete nám ji
